Rasterkraft-Mikroskop

Mit einem Rasterkraftmikroskop (atomic force microscope, kurz: AFM) können mit Hilfe einer Spitze aus wenigen Atomen kleinste Oberflächenstrukturen rekonstruiert werden. Im Unterschied zur Rastertunnelmikroskopie brauchen die zu untersuchenden Proben nicht elektrisch leitfähig zu sein.

Projekte mit diesem Gerät

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